技术编号：11944363
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于测量待测物的形状的测量装置、计算方法、系统和物品的制造方法。背景技术存在已知的如下的测量装置，该测量装置经由诸如投影仪的投影单元将线图案光(诸如空间编码方法的线图案光)投影到待测物上并且基于通过成像单元获得的反射光的位置根据三角测量原理获得三维坐标。在该测量装置中，待测物的材料容易影响测量结果。例如，在工业制造的领域中，树脂有时作为待测物被处理。当待测物是树脂时，投影到待测物上的光入射到待测物的内部并且在其中散射，即，出现所谓的内部散射。如果出现这种内部散射，那么，除了来自待测物表...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。