技术编号：11944832
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于超短激光脉冲测试技术领域，具体涉及一种超短激光脉冲波形测量装置。背景技术激光束的脉冲时间波形是评价高功率超短激光性能的重要指标。对于短于1皮秒的光脉冲，通常采用的方法是通过二阶、单延迟的三阶相关测量推算超短光脉冲的脉宽，但难以准确给出脉冲的形状，因此二阶、三阶相关仪主要用来测量脉冲的对比度及近似给出脉冲宽度。名称为《高功率超短激光脉冲对比度测量装置》的实用新型专利（专利号：ZL170717077677.0）公开了一种通过单延迟的三阶强度相关测量来获得脉冲对比度的方法，名称为《一种单发次...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。