技术编号：11946705
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及天线测试装置领域，具体地，涉及一种新型的多探头近场天线测量装置。背景技术通讯的迅猛发展推动了天线的研发工作，因而出现了一些年产天线达到几万台、品种达数百种的企业。天线测量的速度现如今已经成为企业研发工作的瓶颈。远场测量法，虽然可以直接测出方向图，但常常要求较大的测试距离，测试速度太慢，每次仅能测立体方向的一个切面，信息量太少，有可能遗漏一些重要的信息。近场测量技术代表着天线测量技术的发展方向。这样技术的优点在于：所需要的场地小，可以在微波暗室内进行高精度的测量，免去了建造大型微波暗室的...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。