技术编号：11946707
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及天线测试，具体是涉及一种基于光程差校正的阵列天线相位一致性测量方法。背景技术单元天线相位的一致性是衡量测向干涉仪等阵列天线的主要技术指标[1]。干涉仪测向的原理是利用天线单元接收到的相位差值来计算来波方向[2]，所以单元天线相位的一致性对测向干涉仪的测向精度有至关重要的作用。为了确保在不同方向上各个单元天线的相位一致性，通常需要对单元天线的相位方向图进行测量。天线相位方向图的测量与天线的相位中心息息相关[3]，目前用于检测天线相位中心的方法比较少，只有用于简单天线的分析法[4]、基于平...
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