技术编号:11946789
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及任意交流载波下的电容特性测量领域,特别是涉及任意交流载波下的电容特性测量设备及其测量方法。背景技术在电路设计中需要精确了解一个元件的静态特性和动态特性,尤其是在实际工作中元件表现出的动态特性对电路工作影响较大。这就需要对元件的动态特性进行精确的测量。容性器件在不同载波下会有不同于静态的特性,在直流偏压、交流载波情况下会有不同的特性,尤其是在高频交流载波下电容特性改变巨大,但是在交流载波下很难测定其容性特性。电容器是电路中最基础的元器件之一,在低压低频下电容特性比较稳定,可以通过测定其静...
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