技术编号:11954928
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及芯片测试领域,尤其涉及一种嵌入式芯片测试方法及系统。背景技术嵌入式存储器IP不存在外部引脚,能够节省焊盘(PAD)空间以及引脚所占据的空间,因此广泛应用于系统级芯片(SOC)中。在实际应用中,在嵌入式存储器出厂之前,可以对嵌入式存储器的功能进行测试,以获知当前的嵌入式存储器是否能够正常工作。由于嵌入式存储器没有引脚,只有电极触点,因此无法直接通过现有的芯片测试装置对其进行测试。在现有技术中,通常采用内建自测试(BuiltInSelfTest,BIST)来间接地对嵌入式存储器进行测试,通...
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