技术编号:11964578
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备对相关申请的交叉引用本申请是中国专利申请第200480031773.0号(国际申请号为PCT/US2004/029148)的分案申请,其全部内容通过引用合并于此。本申请要求了提交于2003年10月23日的美国临时申请No.60/514,769的优先权,其全部公开通过引用结合于此。技术领域本发明总地涉及光学成像,且更具体地,涉及用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备。背景技术如本领域中所公知的,光学干涉测量反射测量法是一种有力的工具,其用于进行...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。