技术编号：11987348
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种半导体器件的测试装置，属于半导体器件测试装置技术领域。背景技术现有技术中，常用的半导体器件在测试过程中一般使用推动气缸，实现垂直上下工作。这种方式降低了测试爪工作的稳定性，导致工作效率较低，生产成本提高。发明内容本实用新型的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种半导体器件的测试装置，增加测试爪工作的稳定性，提高工作效率。按照本实用新型提供的技术方案，所述半导体器件的测试装置，包括大板，在大板上安装测试装置和推动装置；其特征是：所述测试装置包括上夹件和下夹件，上夹件和下夹件的中...
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