技术编号:12009512
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及存储器技术领域,尤其涉及一种存储器及通过测试机台对存储器进行测试的方法。背景技术随着半导体工艺尺寸的不断缩小,嵌入式存储器可能存在的缺陷数量及缺陷类型越来越多。嵌入式存储器的测试技术包括:直接测试、用嵌入式处理器进行测试和内建自测试技术(MemoryBuiltInSelf-Test,MBIST)。与其它两种技术相比,存储器的内建自测试技术具体很多优势,例如,可以实现可测性设计的自动化、自动实现通用存储器测试算法、可利用系统时钟进行“全速”测试以及可针对每一个存储单元提供自诊断和自修复功...
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