技术编号：12033234
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及晶硅组件缺陷检测领域，特别是涉及一种自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备。背景技术在晶体硅太阳能组件/电池片制造过程中，有一工序是对于产品缺陷的检测—EL（electroluminescence）测试。在目前的技术中，EL的缺陷判定都是通过人员主观去判定，这样的做法，一方面会造成产品漏检，另外一方面，也容易出现主观判定不一致，因为不同的人，其对标准的理解也不一样，此外，人工检测也增加了人力成本，需要改进。发明内容本发明主要解决的技术问题是提供一种自动分选的晶硅组件缺陷的EL测试设备，对...
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