技术编号:12033372
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明是一种测污仪,属于表面污染探测技术领域。背景技术测污仪适用于低水平α、β辐射表面污染检测。具有较高的探测效率;同一探头能同时测量α、β粒子,并自动区分α和β粒子,是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行α、β辐射表面污染检测的理想仪器。该仪器采用单片控制,可实现数据的连续采集、存储,并可随时查询。可储存报警数据,可随时查看。自动区分α和β射线,并分别计数显示,可手动设置测量单位:cps、cpm或Bq/cm,能够满足现场环境恶劣的监控点的安装要求,使得对前...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。