技术编号:12033529
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路测试领域,特别是涉及一种电源芯片测试系统及方法。背景技术在集成电路的测试中,为了保证电源芯片的稳定性,往往会对电源芯片的各项工作参数进行测试。现有的电源测试方案主要应用于解决大功率开关电源在生产线上的量产测试,针对电源芯片的测试,其成套系统的造价非常昂贵,且软硬件配置过剩。因此,在对电源芯片进行测试时,不得不采用人工测试的方法,一边调整输入电压与负载大小,一边记录输入电流与输出电压,假设有9个以上样片、4种温度条件、4个以上输入电压条件、6个左右负载条件的情况下,至少有864个...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。