技术编号:12060498
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于三维信息重构的领域,具体涉及一种高动态性能的光栅投影三维测量方法。背景技术光学三维测量技术能够快速准确地获取物体的三维数据,可用于三维模型重建、物体表面轮廓测量、工业环境中的尺寸和形位参数的检测等,被广泛应用于逆向工程、工业检测、虚拟现实、文物保护和医疗诊断等领域。光栅投影三维测量是一种重要的光学三维测量技术,通过向物体表面投射正弦光栅,将物体表面的形状信息调制在光栅之中,利用CCD相机获取物体表面的光栅条纹图像,并使用特定的条纹分析方法对图像进行处理,提取其中的相位信息,从而获取物体...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。