技术编号：12109734
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测量仪，具体涉及一种斜向几何公差测量仪。背景技术在机械零件几何公差测量中，经常会遇到斜向几何公差特征项目的测量，即被测几何要素相对于零件主体是斜的，或被测要素相对于基准要素倾斜一定的角度，如斜面、斜线、圆锥的发生线、倾斜度、斜向跳动等，测量时要调整零件位置或百分表轨迹以适应倾斜的要求，测量过程复杂、精度差、效率低，甚至测量过程无法实施。发明内容本发明的目的是：设计一种斜向几何公差测量仪，使用旋转的导轨带动测量头沿直线或斜线运动，适应大部分斜向几何公差特征项目的测量。本发明的技术解决方案...
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