技术编号：12116166
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及电气元件测试的技术领域，特别是涉及一种测试机构。背景技术在表面贴装加工过程中，一般需要在贴装之前，对贴片电子元件进行测试。一般的测试设备，在切换被测试元件时需要移动探针，在测试元件时，探针的位置容易存在偏差，探针与元件的引脚接触不良，影响测试效果。特别是在测试极小的元件时，探针的偏差对测试效果的影响更为严重。实用新型内容基于此，有必要针对上述问题，提供一种能够提高测试效果的测试机构。一种测试机构，包括：驱动器；凸轮，所述凸轮与所述驱动器的连接，所述驱动器驱动所述凸轮转动；滑轨，所述...
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