技术编号:12116737
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及结构光全景测量系统,尤其涉及一种结构光全景测量系统的测量方法。背景技术结构光测量是视觉测量中一种重要的测量方法,利用相机捕捉投影仪投射的且在被测目标表面变形的模板图片,从而实现三维物体的重建和测量。由于相机只能拍摄视场范围内的场景而投影仪也只能投影图像到其视场范围内,它们的视场一般都小于180度,则要实现360度的全景测量,必须旋转投影仪和相机,测量后再进行配准,操作复杂且易损失精度。发明内容鉴于现有技术存在的缺陷,本发明的目的在于提供一种结构光全景测量系统的测量方法,在保证较高精度的...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。