技术编号:12119519
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及钨探针的制备装置及方法,具体涉及一种超低粗糙度钨探针的制备装置及方法。背景技术钨探针由于具备较好的强度和刚度,在机械操作中不易弯折,而且具备良好的导电性及导热性,使其在电化学分析、材料微观结构分析(STM、AFM)、生命科学分析、电学性能测试系统中得到广泛的应用。特别是在材料微观结构分析与生命科学分析中除了对钨探针的针尖有较高的要求(针尖曲率半径越小、形状越对称,分辨率和图像的质量越高)外,对钨探针表面粗糙度也提出了很高的要求。钨针表面粗糙度越低,对于生命科学中需分析的生物材料破坏也越...
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