技术编号:12119539
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及低温测量领域,尤其涉及一种低温测试探杆。背景技术低温测试探杆主要用于连接超导器件及常温测量仪器,实现微波、偏置电流及超低频电压的传输。其将微波及偏置电流驱动信号从常温仪器上引入到低温下的超导器件上,再将超导器件产生的超低频电压引出到常温测量仪器。由于超低频电压参数通常应用于自动控制、振动测量、结构分析等专业中,其频率低至毫赫兹,信号周期长,振幅变化极其缓慢,因此准确测量较为困难。在频率达到毫赫兹范围时,由于其传输电压引入误差而导致技术指标往往只能达到10-3量级,无法满足高准确度超低频...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。