技术编号:12119708
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及材料检测领域,特别是涉及一种介质材料测量件的校准方法、短路校准件、介质材料测量方法及装置。背景技术介质材料是射频部件及射频类产品中的常用材料,广泛应作PCB基材、天线保护罩、谐振腔调谐零件等多个方面,而介质材料的电磁特性作为介质材料的重要特性之一,对介质材料的应用有重要的影响。一般可用介电常数来表示介质材料的电磁特性,因此介电常数的测量是介电材料参数测量的重要组成部分,根据介质材料的不同,试验方法也不尽相同,且现有的试验方式中的装置受到环境的影响,其自身参数无法确定,使试验数据存在误差...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。