技术编号:12129341
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及芯片测试领域,特别涉及一种芯片输入引脚测试方法和装置。背景技术在目前的芯片测试技术中,无法方便地对芯片的引脚进行测试。通常需要等到芯片封装完毕后,在整机软件运行时配置相关序列来对芯片的引脚功能进行完整测试。随着芯片特征工艺尺寸的快速发展,芯片引脚也越来越容易出现良率问题,因而对芯片引脚的测试就成为了芯片测试领域中十分重要一环。如果引脚测试不通过,芯片将无法准确输入或输出数据,将直接影响到芯片的性能使用。如果还是按照现有的测试方法,在整机验证时才能对芯片引脚进行验证,如果引脚出现故障,由...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。