技术编号:12129442
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种寿命推定电路及使用了该寿命推定电路的半导体装置,特别涉及一种对功率元件的寿命进行推定的寿命推定电路和使用了该寿命推定电路的半导体装置。背景技术功率元件随着通电电流的增减而反复发生显著的温度变动。随着该温度变动,将功率元件和电极连接的导线的接合逐渐地劣化,最终会断裂,功率元件到达寿命。由于显著的温度变动,对连接各部分的焊料施加应力,发生裂纹、剥离,功率元件的散热性变差,有时甚至导致热破坏。但是,功率元件的应用产品涉及领域较广,使用环境也多种多样,因此寿命推定非常困难。因此,存在使用中...
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