技术编号：12156130
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于通过导电电导率传感器来确定介质的电导率的方法。背景技术一种用于测量介质的电导率的测量电路，该测量基于对介质的电阻测量以及利用因子的随后的计算，该因子被称作电导池常数并且源于电导率传感器的几何结构。通常，在生产期间对电导率传感器的测量电路进行调整。在该过程中确定了误差，诸如放大和零点误差，并且如果存在任何校正值，则校正值被保存在非易失性存储器中。这样的调整通常发生在室温下，因为在调整期间很难实现温度上的变化。这样的电导率传感器在许多年期间运行在客户处并且在该处被暴露在各种环境条件下，...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。