技术编号：12156692
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于航天领域中的电子器件技术领域，具体地涉及一种高速数据采集程控系统。背景技术许多应用于航天领域中的电子器件需要在地面进行单粒子撞击测试，以保证其在外太空辐射环境下的正常工作。测试试验中，使被测电子器件处于正常工作状态并放置在辐射环境中，用高能粒子对器件进行撞击，观察其输出信号是否产生异常。这种异常脉冲的时间宽度一般都在1μs以下，整个测试过程需要持续1h以上。为了实现对异常脉冲的捕抓，数据采集系统需要满足很高的要求，这包括系统的采集速度以及存储容量。此外，由于测试环境的特殊性，也要求测试...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。