技术编号：12173061
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种量测装置以及量测方法，尤其涉及一种光学量测装置以及间隙量测方法。背景技术一般而言，量测电子装置的装置本体与装置元件之间的间隙宽度，为电子装置生产线上重要的检测项目。在现阶段的电子装置系统厂所使用的方法当中，主要是利用厚薄规与光标卡尺以接触式测量的方式来量测间隙宽度。此种方法除了有刮伤电子装置表面的问题，在量测以及记录上也会容易有误差产生的风险。此外，此种传统的量测方式必须花费大量的人力以及时间来执行量测工作。发明内容本发明提供一种光学量测装置以及间隙量测方法。本发明提供一种光学量测...
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