技术编号:12173129
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明创造属于勘测领域,尤其是涉及一种高稳定性位移测量装置。背景技术位移测试是在工程结构试验中很重要的一个环节,通过测试结构有关部位的位移,可以了解其在荷载作用下的应力分布情况、内力情况,从而了解结构的性能和承载能力等。因此,在结构试验中一般情况下都需要进行位移测试。在结构测试中,比较常见的位移测试主要有:1、电阻位移测试。通常情况下,对于在室内的短期研究性试验通常采用电阻位移测试。这种位移测试,对试件的影响小、可以自动采集,价廉物美。但是,这种位移测试容易受到环境的影响,同时对于位移片的黏贴要...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。