技术编号：12173595
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光纤损耗的测试技术领域，特别涉及一种光纤双向损耗的测试装置、测试方法及通讯方法。背景技术随着信息时代的发展，数据业务的飞速发展，用户对带宽需求的进一步增加，由于光纤链路对满足高带宽方面的巨大优势，光纤的使用越来越多。为提供更多服务来满足客户的需求，随着波分系统的大量应用，设备对光纤线路传输质量的要求也相应提高，因此要对光纤线路进行双向损耗测试。由于光纤光缆本身制作的原因，光纤存在粗细不均匀等天生缺陷，这些缺陷会造成线路从A地到B地的损耗存在差异，一般距离越远，光纤品质越差，差异值也就越...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。