技术编号:12174781
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种辐射监测技术领域,尤其涉及一种基于电离室系统的检测方法。背景技术目前国内外主要应用的基准电离室包括自由空气电离室和石墨空腔电离室。在250kV~600kVX射线空气比释动能基准建立中,当X射线管电压超过400kV时,次级电子间距的增加使得所需自由空气电离室的电极距非常大,由于自由空气电离室在测量较高能量段射线方面的局限性,现欲使用石墨空腔电离室作为基准电离室。电离室检测系统是利用电离辐射的电离效应测量电离辐射的探测器。在应用电离室检测系统的过程中,附加滤过片的作用是对入射的X射线进...
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