技术编号:12201599
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种新型单色X射线源,具体的说是一种脉冲式单色X射线管,主要是应用于X射线特征谱成像和X射线荧光光谱检测。背景技术X射线具有波长短,穿透能力强的特点,至今为止广泛应用于无损检测领域,包括成像探伤、光谱检测等。X射线成像技术,就是利用X射线穿透能力强的特点,它能够穿透物质并根据穿透物质的质量吸收系数大小不同,通过探测X射线的衰减程度来实现对物体内部结构的无损成像。X射线无损检测技术已在工业上有着非常广泛的应用,它既可用于金属检测,也用于非金属检测。对产品内部在制造中产生的缺陷,如气泡、异...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。