技术编号：12256108
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及电路元件的老化测试技术领域，尤其是涉及一种金属元件接触电阻的测试装置。背景技术金属元件，例如金属焊盘、金手指等，在与其它电路元件接触时，金属元件将会产生接触电阻。另外，金属元件在使用过程中，由于与其它电路元件相互摩擦，金属元件表面会逐渐呈现老化现象。金属元件与其它电路元件相接触时所产生的接触电阻将会随着金属元件的老化而逐渐发生变化，金属元件接触电阻的变化将会影响到电子设备的稳定运行。发明内容基于此，本实用新型在于克服现有技术的缺陷，提供一种金属元件接触电阻的测试装置，它能够对金属元...
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