技术编号:12265198
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种基于反射率光谱测量光学薄膜厚度的方法及系统【技术领域】本发明涉及薄膜技术领域,具体涉及一种基于反射率光谱测量光学薄膜厚度的方法及系统。【背景技术】光学薄膜是附著在光学元件表面的介质薄膜,基于薄膜内光的干涉效应来改变透射光或反射光的光强、偏振状态和相位变化,从而达到改善材料的光学特性的效果,还能优化光学元件的表面性能,如提高耐磨性等。光学薄膜在光学元件上的运用,可改善光学元件的品质,因此光学薄膜可广泛应用于精密光学设备、显示器设备到日常生活中使用的眼镜、数码产品等具体产品中。光学薄膜的厚度对其...
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