技术编号:12265934
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及一种料位开关,尤其是涉及一种高频行波反射式料位开关,该行波反射式料位开关采用了探杆总成反射系数作为动作判椐,排斥了电路元器件误差的影响,因此稳定性极高。背景技术在生产自动化控制过程中,经常会遇到对物料位置的检测,而检测物料位置的主要方法就是采用料位开关进行测量,料位开关对固态粉状物料检测一直是物位检测的难点,其特点是被测物体电气特征与物理特征的参数离散性大,而且物料容易附着在传感器探头上形成干扰导致料位开关误动作。现有采用电测原理的料位开关均采用对物料的介电系数、导磁率、电导率构成的复...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。