技术编号:12267548
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于热导率测试技术,涉及超短激光脉冲抽运探测技术,尤其涉及一种显微可视化抽运探测热反射系统。背景技术微纳结构材料已广泛地运用于微电子、光电子等领域,而这些微器件在工作时将产生极高的热流密度,热堆积将直接影响到此类器件的工作效率以及可靠性。解决上述微器件散热问题极为迫切,这需要对组成上述微器件的微纳结构材料的热输运性质进行准确表征,以便揭示其热输运机理。在研究超快热输运过程,常常需要借助超短脉冲激光抽运探测技术。在传统的超短激光脉冲抽运探测系统中,样品的测量位置只能粗略的估计,这导致传统的测...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。