技术编号:12267935
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种利用图像信息测量工件表面缺陷的方法。背景技术工件的表面状态是一项重要的指标,可以用来衡量工件的状况是否满足实际使用的需要,工件的材料是否合格等等。目前在对工件进行缺陷分析时,只能是在实际的工件上量取缺陷的尺寸。一方面这种测量方式准确度不够,所测量的缺陷尺寸精度达不到要求,另一方面,不方便进行后续的数据处理或分析。发明内容本发明设计开发了一种精度高,且方便后续数据处理和分析的利用图像信息测量工件表面缺陷的方法。本发明提供的技术方案为:一种利用图像信息测量工件表面缺陷的方法,包括:步骤...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。