技术编号:12267993
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光谱分析设备领域,尤其涉及一种分布式X射线荧光光谱分析检测系统。背景技术X射线荧光(XRF)光谱分析仪是一种大型的物理测试分析仪器,可用来测定材料的元素组成,它通过用x射线照射试样并观测分析试样发出的x射线来实现,主要由x射线光源、荧光光谱分析检测系统及数据处理和打印图谱系统等几部分构成。现有的X射线荧光光谱分析仪为了进行数据处理通常配置有微计算机辅助实验系统,微计算机辅助实验系统一般通过电缆相连,设备成本高且不便于携带,同时工作人员必须在实验室进行处理,无法远程操作。随着科学技术的发...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。