技术编号:12273042
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于数字图像处理领域,具体涉及一种针对液晶面板IC粒子区域的缺陷检测方法。背景技术随着智能手机的快速发展,液晶面板的需求已越来越大。液晶面板的自动化生产程度,直接制约着其产量与生产成本的高低,而目前液晶面板IC粒子区域的缺陷检测主要是依靠人工镜检,由于IC区域有上千个需要检测的粒子区域,所以传统的人工检测只能满足极少部分液晶面板的抽检,而不能实现全检;这就在一定程度上制约了产品质量与生产效率;在对IC粒子进行压合的过程中,由于空气中少量杂质或IC来料的赃污都有可能造成粒子压合失败,形成异物...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。