半导体装置的制造方法与流程技术资料下载

技术编号:12288764

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本发明涉及一种半导体装置的制造方法,特别地,涉及含有高散热材料的电力用等的半导体装置的制造方法,该高散热材料与封装树脂相比,针对功率芯片、散热件以及半导体元件(Si/SiC等)处产生的热的热传导率大。背景技术就电力用等的半导体装置而言,确保高绝缘性、并且将功率芯片处产生的热高效地向外部进行散热是非常重要的。为了提高散热性能,期望使功率芯片下侧的绝缘层变薄,但如果使绝缘层变薄,则担心绝缘特性劣化。另外,在由1种树脂对整体进行全模塑的构造中,由于使绝缘层越薄,则树脂绕入至绝缘层形成部的状况越差,模塑...
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