技术编号：12303403
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光模块检测技术领域，特别是涉及一种光响应特性快速测量装置及方法。背景技术随着集成光电子芯片技术的迅猛发展，各式的多功能、高性能的集成光学器件或模块应用到光通信或光学产业。与此同时，集成器件的光响应特性的测量和评估对于系统性能至关重要。目前主要依赖波长可调谐激光器实现高精度的光学响应测量，但是该技术方案的测量速度受限于激光器的波长调谐速度，无法适用于光学芯片瞬态响应的快速测量。此外，该技术在测量相位响应方面存在较高的实现复杂度。由于传统的方法通过激光器波长的调谐扫描，测量待测光器件或模块...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。