技术编号:12321377
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及正电子发射断层成像系统,尤其涉及正电子发射断层成像系统的校正技术领域。背景技术正电子发射断层成像(PositronEmissionTomography,PET)已成为预临床研究和临床诊断的重要分子影像工具,其成像性能与图像重建之前数据预处理方法密切相关。数据预处理包括归一化校正,随机校正,散射校正,衰减校正等。其中,归一化校正为预处理的第一步,其准确性直接决定后续散射校正和随机校正的准确性,从而影响最终重建图像的性能,如均一性、噪声特性及伪影特性等。受PET系统结构设计、前端晶体与光电...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。