技术编号:12356843
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及红外测温技术领域,尤其涉及一种用于光学镜面的红外测温装置。背景技术温度是影响光学设备成像质量的关键因素之一,对像质的影响主要包括:光学镜面与空气的温差起伏会在上方空气中形成一层湍流,产生镜面视宁度(mirrorseeing);光学镜体温度变化引起的热变形和折射率变化,使反射或透射后的波面偏离了理想波面,产生热致像差;温度引起的光学元件其它性能参数的变化。研究并消除温度对光学成像设备的影响,光学镜体特别是光学镜面的温度精确测量是不可缺失的一环。目前光学镜面温度测量法有接触测温和间接测温两...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。