技术编号:12357115
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光纤特征参数测试技术领域,具体涉及一种光子带隙光纤背向散射分布的高精度测量方法及装置。背景技术光子带隙光纤是一种基于光子带隙效应的新型微结构光纤,通过SiO2和空气孔的周期性排列形成二维光子晶体结构,产生光子带隙效应,从而限制光波在中心空气孔缺陷(纤芯)中传播。与传统光纤相比,光子带隙光纤具有诸多优点,如对温度、电磁场、空间辐射等环境因素的敏感度低,对弯曲不敏感等。光纤的背向散射是指在光纤的数值孔径内的散射光中沿着与入射光波相反方向传播的散射。传统光纤中的背向散射主要来源于光纤的折射率...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。