技术编号:12357403
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明是有关于一种样本收集元件,且特别是有关于一种可用于显微镜观察的样本收集元件及其制作方法和样本收集元件阵列。背景技术随着显微观察技术的发展,各种类型的显微镜,例如光学显微镜(OpticalMicroscope)、原子力显微镜(AtomicForceMicroscope,AFM)、电子显微镜如穿透式电子显微镜(TransmissionElectronMicroscope,TEM)、扫描式电子显微镜(ScanningElectronMicroscope,SEM)等,因应而生。此外,不同类型的显微...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。