技术编号：12357754
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及非制冷太赫兹焦平面探测领域，尤其是涉及一种太赫兹阵列探测器的非均匀性校正系统及方法。背景技术太赫兹波是指频率在0.1~10THz(波长在30μm至3mm)之间的电磁波，其波段处于毫米波与红外波之间。由于太赫兹波的宽带性、瞬态性、低能性、相干性、惧水性、穿透性等特点，使其在安检、通信、生物化学等方面展现了广泛的应用前景，成为国内外研究热点。近二十年来，稳定可靠的太赫兹辐射发射源和太赫兹辐射探测手段因为超快电子学技术、激光技术以及低尺度半导体技术等的快速发展而相继出现，加快了太赫兹技术的发...
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