技术编号:12370326
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。具有集成保护结构的结隔离阻断电压装置及其形成方法本分案申请是2013年11月19日递交的题为“具有集成保护结构的结隔离阻断电压装置及其形成方法”的中国专利申请No.201310581244.9的分案申请。技术领域本发明的实施例涉及电子系统,更具体地说涉及对集成电路(IC)的保护。背景技术一些电子系统可能暴露至瞬间电事件,或者暴露至具有相对短持续时间、相对较快的改变电压和高功率的电信号。例如,瞬间电事件可包括静电放电(ESD)事件和/或电磁干扰(EMI)事件。瞬间电事件可能由于相对于较小面积的IC...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。