技术编号:12445762
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本专利涉及一种光致发光的测量系统,创造性的通过光纤将光致发光测量引入于极低温、强磁场下,为测量材料的结构、成分、环境原子排列的信息以及半导体材料的少数载流子寿命等提供了新手段,具有简单、无破坏性、对样品尺寸无要求、分辨率高等特点。背景技术在半导体材料与器件相关的测试手段中,磁输运是一种重要而基础的研究手段,用以研究材料的载流子浓度,类型和迁移率等基本信息。而在深低温的条件下,众多量子效应呈现出来,作为对经典电导的修正,电导的量子效应反映出材料的自旋特性等物理信息,这些特性可能在新一代的物理器件—...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。