技术编号：12445975
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子技术领域，尤其是涉及一种光检测电路及光检测方法。背景技术随着芯片的应用越来越广泛，用户将很多重要信息放入各种芯片中，例如银行卡芯片、手机SIM卡、社保卡等等，因此芯片的安全问题也愈发重要。目前，芯片存在一定的安全隐患：攻击者为了不破坏芯片的外界封装，借助于先进的半导体测试设备探测芯片的内部连线，从而干扰芯片的正常工作，达到窃取芯片上信息的目的。发明人发现，攻击者在借助于半导体测试设备探测芯片的内部连线时，通常会都芯片进行照射，因此通过光检测电路检测有无光照的发生，从而解决上述安全隐...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。