技术编号：12446051
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种光学测量技术，特别涉及一种基于表面等离子体直接测量纵向偏振光偏振态的方法。背景技术光的偏振状态是光的重要属性之一，是在光的应用与研究过程中必须考虑的参数，因此测量光的偏振态尤为重要。对于常见的横向偏振光，也就是偏振方向与传播方向垂直的光，通过旋转偏振片可以很容易的确定光的偏振方向。但是对于纵向偏振光，也就是偏振方向与光的传播方向相同的光，偏振片的旋转对光的透射没有影响，因而无法检测偏振态。目前对纵向偏振光偏振态测量有一些间接的方法：例如使用光刻胶测量光在垂直传播方向平面上的强度分布...
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