技术编号:12446438
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种陶瓷封装管壳差分走线阻抗测试装置,属于集成电路陶瓷封装管壳测试技术领域。背景技术现代集成电路向着高频、高速、小型化方向迅猛发展,对封装管壳走线的电性能要求越来越高,阻抗匹配是高速差分信号传输的关键因素,因此封装管壳的阻抗匹配测试不可或缺。当前国内外是通过阻抗测试设备连接差分探头的方式,将差分探头与管壳测试点相接触得到管壳差分走线的阻抗特性曲线。这种方法是一种快速阻抗匹配测试方法,虽然可以适用于多数封装管壳,但却无法应用于引脚高密度排布(引脚间距0.8mm以下)或引脚尺寸较小(引...
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