技术编号：12448638
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于分析用标准样品的制备方法，具体涉及一种用于X射线荧光光谱分析的ABS标准样品的制备方法。背景技术欧盟于2003年公布了WEEE指令和ROHS指令，禁止使用或者限制使用含铅（Pb）、汞、镉、六价铬等有害物质的电子电气设备产品，对我国在该领域的外贸制约日趋严重。如何有效应对该指令已成为我过生产电子电器产品的厂家严重关注的问题。为此，急需一种快速、准确测试电子电气中有害物质的方法。目前的分析方法多采用离子发射光谱分析，但此方法对样品的前处理较为繁琐，且存在由于基体差异、浓度梯度等因素可导致检...
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