技术编号:12450207
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于薄膜材料电化学表征与耐蚀性能检测领域,具体涉及一种快速高通量筛选组合材料芯片中具有优异耐蚀性能成分配比的用于组合材料芯片的高通量电化学表征的装置及方法。背景技术目前常用的电化学研究方法(如开路电位,动电位极化曲线以及交流阻抗测试)得到的均是研究电极表面的平均信号,当电极表面化学状态不一致时,这些方法就不能表征研究电极表面的局部腐蚀情况,而且这些研究方法采用的是“炒菜式”的模式,只能单独测试,研究速度缓慢。而当下,国家正大力发展“材料基因组”工程项目,“材料基因组”工程分为三个模块,分别...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。