技术编号：12450933
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种用于检测移动终端在进行品质检测试验中其内部器件的裂纹的检测系统及检测方法。背景技术目前移动终端(例如手机)的可靠性的品质检测试验有很多，其中滚筒跌落试验对品质要求最为苛刻。移动终端在滚筒跌落试验过程中，最容易出现开裂失效的核心器件包括CPU芯片、电容器件、电感器件、摄像头IR器件等等。而这些开裂失效的器件的初始裂纹的时间与位置、裂纹扩展的深度和强度等裂纹数据的确定均具有一定的难度，这使得对开裂发生的根源理解的不够透彻，解决开裂的方案的目的性不强，针对性不够。发...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。